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伟思富奇-温度冲击试验箱
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发布日期:2019-05-20
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详细介绍

V?tsch Temperature Shock Test Cabinet
温度冲击试验箱
VT3 7012 S2
Test space volume

/ 试验空间容积 approx. 120 litres

Temperature range


of the hot chamber +50 °C to +220 °C

/ 热箱温度范围

Temperature range


of the cold chamber -80 °C to +70 °C

/ 冷箱温度范围

Standard features

标准功能

Powder coated housing made of galvanised steel sheet

粉末喷涂镀锌钢板外壳

Window, 355 mm x 355 mm, in the hot chamber

热箱配置观察窗 355 mm x 355 mm

1 Ultra-lightweight shelf (mesh width 8 mm) incl. rails

1 个轻质样品架(网孔宽度 8mm),包括导轨

Cradle in loading position locked

吊篮在装载样品位置可被锁定

Max. loading capacity of cradle 50 kg

吊篮最大负载能力 50 kg

1 leadthrough 80 mm ?

1 个直径 80 mm 顶部引线孔

Volume compensation system for frost free operation for >1000 cycles.

(An internal air bag connected to the cold chamber to

prevent frost on the evaporator)

通过大容量补气系统实现免除霜操作>1000 循环

(包含一个大容积补偿气囊连通冷箱避免蒸发器结霜)

Water-cooled refrigeration unit

水冷制冷系统

CFC-free refrigeration unit

无氟制冷循环

Comfortable 8” colour-touchpanel

8”彩色触摸式控制器

CONTROLPAD for door with status indication

门上用以状态显示的 CONTROLPAD

Highly efficient 32 bit control and monitoring system SIMPAC

32 位高效控制和监测系统S!MPAC

Interfaces USB and ethernet

USB 和以太网接口

Digital I/O, potential-free 24 V, 4 freely disposable inputs/outputs

数字式 I/O,零电势 24V,4 个可自由选用的输入/输出

Independent adjustable temperature limiter tmin / tmax in cradle

for hot and cold zone

吊篮中的独立的、可调节的温度限制器,最低温度/最高温度

Potential free contact for switching-off of test specimens

用于试验样品开关的无电势接触器

Adjustable software temperature limiter tmin / tmax

可调节的软件温度限制器,最低温度/最高温度


Performance data/

Performance data/性能参数
Temperature tests/温度测试
Temperature range

of the hot chamber +50 °C to +220 °C

热箱温度范围

Temperature range


of the cold chamber -80 °C to +70 °C

冷箱温度范围

Hot or cold chamber may also be utilized as individual temperature chamber.

热箱或冷箱分别可作为单独温度试验箱使用

Temperature deviation

in time


in centre of working space ±0.3 K to ±1.0 K
工作室中心点温度波动度
Temperature homogeneity
in space relative to the

set value 1 ±0.5 K to ±2.0 K

相对设定值的空间温度均匀性

Heating rate of hot chamber


according to IEC 60068-3-5 14 K/min.
按照 IEC 60068-3-5 热箱升温速率
Cooling rate of cold chamber
according to IEC 60068-3-5 6.3 K/min.
按照 IEC 60068-3-5 冷箱降温速率
Heating rate of cold chamber
according to IEC 60068-3-5 2.0 K/min.
按照 IEC 60068-3-5 冷箱升温速率
Temperature changing tests:
MIL-STD- 883 F, method 1010.8,
Severity D with 12 kg of IC’s
distributed over 3 shelves;
measurement on test specimens Adaption time <15 min.
恢复时间小于 15 分钟
温度变化试验:
按 MIL 883 F,方法 1010.8,等级 D,
12 kg 的 IC’s ,分散于 3 个样品架,
在试验样品上测量
The following standards are
met 满足的试验标准 IEC‐60068‐2‐14, test Na2,
transfer time <10 sec.;
MIL‐STD‐810 G, method 503.5;
MIL‐STD‐ 883 J, method 1010.8


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